Um modelo Bayesiano semi-paramétrico para o monitoramento ``on-line\" de qualidade de Taguchi para atributos

Este modelo contempla o cenário em que a sequência de frações não-conformes no decorrer de um ciclo do processo de produção aumenta gradativamente (situação comum, por exemplo, quando o desgaste de um equipamento é gradual), diferentemente dos modelos de Taguchi, Nayebpour e Woodall e Nandi e Sr...

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Bibliographic Details
Main Author: Miriam Harumi Tsunemi
Other Authors: Luís Gustavo Esteves
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2009
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-09072013-090428/