Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a microscopia de força atômica

O Microscópio de Força Atômica foi usado para investigar interações de força de adesão na nano-escala entre superfícies sólidas, através de medidas de curvas de força em dois ambientes: em ar e em água. As medidas de curva de força adquiridas em ar quantificaram as forças de adesão devido a comp...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Fabio de Lima Leite
Other Authors: Paulo Sérgio de Paula Herrmann Junior
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2002
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-18082015-165950/