Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica
Neste trabalho investigamos a dinâmica de crescimento de filmes de diamante sintetizados por meio de deposição química a vapor ativada por plasma de microondas (CVD). A caracterização foi feita utilizando, fundamentalmente, microscopia de força atômica (AFM). Analisamos o comportamento da rugosi...
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| Other Authors: | |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade de São Paulo
1999
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/ |