Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica

• Main Author: Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira
• Other Authors: Maria Cecilia Barbosa da Silveira Salvadori
• Language: Portuguese
• Published: Universidade de São Paulo 1999
• Subjects: Expoentes críticos; Filmes de diamante; KPZ; Leis de escala; Microscopia de força atômica; Atomic force microscopy; Critical exponents; Diamond films; Scale laws
• Online Access: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/

Neste trabalho investigamos a dinâmica de crescimento de filmes de diamante sintetizados por meio de deposição química a vapor ativada por plasma de microondas (CVD). A caracterização foi feita utilizando, fundamentalmente, microscopia de força atômica (AFM). Analisamos o comportamento da rugosidade dos filmes como função da escala de observação e do tempo de deposição. Dessa maneira verificamos a existência de leis de potência para o crescimento e determinamos os expoentes críticos associados a essas leis. Os resultados obtidos estão em bom acordo com o processo de crescimento descrito pela equação estocástica KPZ. Os mecanismos principais são a deposição aleatória de partículas na superfície, o crescimento lateral e a dessorção. === Diamond films have been grown by Microwave Plasma assisted Chemical Vapor Deposition (CVD). The characterization has been made mainly by Atomic Force Microscopy (AFM). We could analyze the roughness behavior with the scale of observation and with the deposition time. We could determine the critical exponents associated with these laws. The results suggest that the growth process is in good agreement with the stochastic growth equation known as KPZ. The most important mechanisms are the random deposition, the lateral growth and the desorption.