Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica

Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica

Neste trabalho investigamos a dinâmica de crescimento de filmes de diamante sintetizados por meio de deposição química a vapor ativada por plasma de microondas (CVD). A caracterização foi feita utilizando, fundamentalmente, microscopia de força atômica (AFM). Analisamos o comportamento da rugosi...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira
Other Authors: Maria Cecilia Barbosa da Silveira Salvadori
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 1999
Subjects:
Expoentes críticos
Filmes de diamante
KPZ
Leis de escala
Microscopia de força atômica
Atomic force microscopy
Critical exponents
Diamond films
Scale laws
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/

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