Análise estrutural de um compledo de níquel e de vários triterpenos por difração de raios-x
Este trabalho consiste em uma introdução teórica dos fundamentos básicos da difração de raios-X por cristais, de uma descrição sucinta do difratômetro automático CAD-4 da Enraf-Nonius, e do método de Patterson e dos métodos diretos usados na determinação de estruturas. Foram resolvidas as estrut...
| Main Author: | |
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| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade de São Paulo
1989
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-23042009-132312/ |