Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
Os circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/31102 |