CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects
Esta dissertação explora os desafios agravados pela miniaturização da tecnologia na fabricação e projeto de circuitos integrados digitais. Os efeitos físicos do regime nanométrico reduzem o rendimento da produção e encurtam a vida útil dos dispositivos, restringindo a utilidade dos padrões de projet...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/37180 |