Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputtering

Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputtering

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Películas delgadas amorfas semiconductoras de amplio ancho de banda del compuesto pseudobinario (SiC)1-x(AlN)x fueron depositadas por pulverización por un sistema de dos magnetrones de radio frecuencia sobre CaF2, MgO, Al2O3 y vidrio. Con el fin de determinar el ancho de banda óptico versus la compo...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Guerra Torres, Jorge Andrés
Other Authors: Weingärtner, Roland
Format: Dissertation
Language:English
Published: Pontificia Universidad Católica del Perú 2016
Subjects:
Películas delgadas
Semiconductores amorfos
Semiconductores
Online Access:http://hdl.handle.net/20.500.12404/7009

Internet

http://hdl.handle.net/20.500.12404/7009

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