利用電子雷射斑點干涉儀作物體表面粗糙度測量

利用電子雷射斑點干涉儀作物體表面粗糙度測量

碩士 === 國立中央大學 === 光電(科學)研究所 === 75 ===

Bibliographic Details
Main Authors:	LAI, CHUAN-WEI, 賴傳尉
Other Authors:	ZHANG, MING-WEN
Format:	Others
Language:	zh-TW
Published:	1987
Online Access:	http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/51174718834678382133

Internet

http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/51174718834678382133