利用電子雷射斑點干涉儀作物體表面粗糙度測量

碩士 === 國立中央大學 === 光電(科學)研究所 === 75 ===

Bibliographic Details
Main Authors: LAI, CHUAN-WEI, 賴傳尉
Other Authors: ZHANG, MING-WEN
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1987
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/51174718834678382133

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