Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究

Dx陷阱中心對高電子移動率電晶體元件與電路之暫態效應與可靠性研究

碩士 === 國立交通大學 === 電子研究所 === 78 ===

Bibliographic Details
Main Authors:	WU,SHENG,ZHI, 吳昇治
Other Authors:	WANG,DA-HUI
Format:	Others
Language:	zh-TW
Published:	1991
Online Access:	http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/43054442570967034402

Internet

http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/43054442570967034402