Exploration on the optimal life testing schedule for Mult- iple types of integrated circuits
碩士 === 國立清華大學 === 統計學研究所 === 83 === IC(integrated circuit)壽命測試主要是要估計其期望壽命有多少。據了 解，其測試的方式有很多種。最簡單的測試方法是一個接著一個測試，並 記錄它的壽命時間，直到有ｒ個壞掉才停止測試，假設IC的壽命分配是指 數分配。θ是它的期望壽命，則這個方法的期望測試時間為ｒθ。對一個 高可靠度IC而言，這樣的測試方法是相當費時的。為降低平均的測試時間...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | zh-TW |
| Published: |
1995
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/57083087396086921530 |