以標準細胞原件庫設計之記憶體時序量測電路
碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 99 === 在現今的電子產品當中，幾乎所有的產品都會有記憶體元件在晶片中。如果我們沒有記憶體相關的時序參數，將會很難對產品下定規格。傳統上會使用測試機台對記憶體的時序參數做量測。然而，一些測試機台的周邊器材，像是探針以及與晶片之間連接的傳輸線等等，都會造成一些額外的延遲時間，這會導致量測結果的誤差。另外，針對系統晶片(system-on-chip)，我們很難直接存取內部記憶體的輸入輸出訊號。因此我們需要一個內嵌式解決方案。在這篇論文裡面，我們提出一種能量測記憶體時序參數的架構。它能夠量測準備/保持時間 (setup/hold Time...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | en_US |
| Published: |
2011
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/84067966660232557618 |