Electric force microscopy techniques on GaAs mesoscopic structures /
Orientador: Elidiane Cipriano Rangel === Coorientador: Christoph Friendrich Deneke === Banca: José Roberto Ribeiro Bortoleto === Banca: Ricardo Paupitz Barbosa dos Santos === Resumo: As técnicas de microscopia de sonda Kelvin (KPFM) e de microscopia de força eletrostática (EFM) são amplamente utiliz...
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | Portuguese English Texto em português; resumo em inglês |
| Published: |
Bauru,
2018
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/11449/154116 |