半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価

半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価

Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・課程博士 === 博士(工学) === 甲第17552号 === 工博第3711号 === 新制||工||1565(附属図書館) === 30318 === 京都大学大学院工学研究科機械理工学専攻 === (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 北條 正樹, 教授 西脇 眞二 === 学位規則第4条第1項該当...

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Bibliographic Details
Main Author: 松田, 和敏
Other Authors: 宮﨑, 則幸
Format: Others
Language:Japanese
Published: 京都大学 (Kyoto University) 2013
Subjects:
半導体パッケージ
反り
残留応力
有限要素法
ピエゾ効果
応力特異場
500
Online Access:http://hdl.handle.net/2433/174918
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spelling ndltd-kyoto-u.ac.jp-oai-repository.kulib.kyoto-u.ac.jp-2433-1749182017-10-06T03:48:31Z 半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価 松田, 和敏 宮﨑, 則幸 北條, 正樹 西脇, 眞二 Matsuda, Kazutoshi マツダ, カズトシ 半導体パッケージ 反り 残留応力 有限要素法 ピエゾ効果 応力特異場 500 Kyoto University (京都大学) 0048 新制・課程博士 博士(工学) 甲第17552号 工博第3711号 新制||工||1565(附属図書館) 30318 京都大学大学院工学研究科機械理工学専攻 (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 北條 正樹, 教授 西脇 眞二 学位規則第4条第1項該当 2013-06-14T05:18:24Z 2013-06-14T05:18:24Z 2013-03-25 2013-03-25 DFAM Thesis or Dissertation http://hdl.handle.net/2433/174918 10.14989/doctor.k17552 jpn application/pdf 京都大学 (Kyoto University) Kyoto University
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松田, 和敏
半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価
description Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・課程博士 === 博士(工学) === 甲第17552号 === 工博第3711号 === 新制||工||1565(附属図書館) === 30318 === 京都大学大学院工学研究科機械理工学専攻 === (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 北條 正樹, 教授 西脇 眞二 === 学位規則第4条第1項該当
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