Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studied by ion beam analysis
Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・論文博士 === 博士(理学) === 乙第10360号 === 論理博第1376号 === 新制||理||1180(附属図書館) === UT51-2000-F426 === (主査)教授 今井 憲一, 教授 野田 章, 教授 笹尾 登 === 学位規則第4条第2項該当
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | English |
Published: |
京都大学 (Kyoto University)
2014
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/2433/181171 |