Lattice location of impurities in ZnSe and GaN as studied by ion beam analysis

Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・論文博士 === 博士(理学) === 乙第10360号 === 論理博第1376号 === 新制||理||1180(附属図書館) === UT51-2000-F426 === (主査)教授 今井 憲一, 教授 野田 章, 教授 笹尾 登 === 学位規則第4条第2項該当

Bibliographic Details
Main Author: Kobayashi, Hajime
Other Authors: 今井, 憲一
Format: Others
Language:English
Published: 京都大学 (Kyoto University) 2014
Subjects:
400
Online Access:http://hdl.handle.net/2433/181171