Handling design issues related to reliability in MPSoC at functional level
Une simple puce ou un système peut contenir plus d'un milliard de transistors, et des milliards de vias connectés au travers de kilomètres d'interconnexions. Cette thèse vise à analyser les erreurs permanentes, tels que, les phénomènes ‘Electromigration’ et ‘Hot Carrier Injection,’ au nive...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2011BOR14448/document |