Test et fiabilité des mémoires Flash

Depuis quelques années, les mémoires non-volatiles de type Flash sont présentes dans un grand nombre de systèmes sur puce. La grande densité d'intégration et la complexité de leur procédé de fabrication rendent les mémoires Flash de plus en plus sujette aux défauts. La présence de défauts dans...

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Bibliographic Details
Main Author: Mauroux, Pierre-Didier
Other Authors: Montpellier 2
Language:fr
Published: 2011
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2011MON20185/document