Test et fiabilité des mémoires Flash
Depuis quelques années, les mémoires non-volatiles de type Flash sont présentes dans un grand nombre de systèmes sur puce. La grande densité d'intégration et la complexité de leur procédé de fabrication rendent les mémoires Flash de plus en plus sujette aux défauts. La présence de défauts dans...
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| Language: | fr |
| Published: |
2011
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2011MON20185/document |