Systèmes épitaxiés faiblement liés : le cas Ge/SrTiO3

Dans un contexte où les limites intrinsèques des matériaux classiques de l’industrie CMOS sont en passe d’être atteintes du fait de la forte miniaturisation des composants, le développement de la microélectronique requiert la définition de nouvelles solutions pour combiner sur un même substrat (le s...

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Bibliographic Details
Main Author: Gobaut, Benoît
Other Authors: Ecully, Ecole centrale de Lyon
Language:fr
Published: 2012
Subjects:
Ge
XPS
TEM
MBE
Online Access:http://www.theses.fr/2012ECDL0058/document