Imagerie ultrarapide à l’échelle nanométrique par diffraction XUV cohérente

Imager des objets non-périodiques à une échelle nanométrique et à une échelle femto seconde est un vrai challenge à notre époque. Les techniques d’imagerie « sans lentille » sont des moyens puissants pour répondre à ce besoin. En utilisant des sources ultrarapide (~fs) et cohérente (ex. laser à élec...

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Bibliographic Details
Main Author: Ge, Xunyou
Other Authors: Paris 11
Language:en
Published: 2012
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2012PA112361/document