Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI

Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l’analyse de défaillance des composants VLSI

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Les technologies VLSI (« Very large Scale Integration ») font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits « hard » apparaissant durant les phases de développement (...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bascoul, Guillaume
Other Authors: Bordeaux 1
Language:fr
Published: 2013
Subjects:
Cartographie en Emission de lumière dynamique
Analyse de défaillance microélectronique
Détection de photons en temps résolu
Dynamic light emission cartography
Microelectronic Failure Analysis
Time resolved photon counting detection
Online Access:http://www.theses.fr/2013BOR14876/document

Internet

http://www.theses.fr/2013BOR14876/document

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