Design, fabrication and characterization of MEMS-based oscillating AFM probes

La plupart de sondes oscillantes pour microscope à force atomique (AFM) commerciale sont basées sur des micro- cantilevers qui peuvent donner la mesure avec une résolution pico-Newton. Toutefois, ces résonateurs de flexion souffrent de faible fréquence de résonance et de facteur de qualité lors de l...

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Bibliographic Details
Main Author: Xiong, Zhuang
Other Authors: Lille 1
Language:en
Published: 2013
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2013LIL10019