Méthodes statistiques pour l’estimation du rendement paramétrique des circuits intégrés analogiques et RF
De nombreuses sources de variabilité impactent la fabrication des circuits intégrés analogiques et RF et peuvent conduire à une dégradation du rendement. Il est donc nécessaire de mesurer leur influence le plus tôt possible dans le processus de fabrications. Les méthodes de simulation statistiques p...
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| Language: | fr |
| Published: |
2013
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2013MON20126/document |