Développement des techniques de test et de diagnostic pour les FPGA hiérarchique de type mesh
L’évolution tendant à réduire la taille et augmenter la complexité des circuits électroniques modernes, est en train de ralentir du fait des limitations technologiques, qui génèrent beaucoup de d’imperfections et de defaults durant la fabrication ou la durée de vie de la puce. Les FPGAs sont utilisé...
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| Language: | en |
| Published: |
2015
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2015GREAT110/document |