Ingénierie de jonctions tunnel pour améliorer les performances du transistor mono-électronique métallique
Aujourd’hui plusieurs obstacles technologiques et limitations physiques s’opposent à la poursuite de la miniaturisation de la technologie CMOS : courants de fuite, effet de canal court, effet de porteurs chauds et fiabilité des oxydes de grille. Le transistor à un électron (SET) fait partie des comp...
Main Author: | Hajjam, Khalil El |
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Other Authors: | Lyon, INSA |
Language: | fr |
Published: |
2015
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Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2015ISAL0111/document |
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