Analyse par ToF-SIMS de matériaux organiques pour les applications en électronique organique

Analyse par ToF-SIMS de matériaux organiques pour les applications en électronique organique

L'électronique organique a connu durant la dernière décennie un essor considérable. La production de dispositifs à base de matériaux organiques reste néanmoins freinée par différents verrous technologiques. La caractérisation de ce type de systèmes conduit à des besoins analytiques spécifiques...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Terlier, Tanguy
Other Authors: Lyon 1
Language:fr
Published: 2015
Subjects:
Analyse de surface
ToF-SIMS
Matériaux organiques
Sciences analytiques
Faisceaux d'ions à agrégats d'argon
Surface analysis
Organic materials
Analytical science
Ion source based on argon clusters
620.44
Online Access:http://www.theses.fr/2015LYO10165/document

Internet

http://www.theses.fr/2015LYO10165/document

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