Implémentation de PCM (Process Compact Models) pour l’étude et l’amélioration de la variabilité des technologies CMOS FDSOI avancées
Récemment, la course à la miniaturisation a vue sa progression ralentir à cause des défis technologiques qu’elle implique. Parmi ces obstacles, on trouve l’impact croissant de la variabilité local et process émanant de la complexité croissante du processus de fabrication et de la miniaturisation, en...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2016GREAT045/document |