Apprentissage Statistique en Domaine Circulaire Pour la Planification de Contrôles en Microélectronique
Motivés par des besoins en industrie microélectronique, ces travaux apportent des contributions en modélisation probabiliste de données spatiales, et en maîtrise statistique de procédés.Le problème spatial a pour spécificité d’être posé sur un domaine circulaire. Il se représente par un modèle de kr...
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| Language: | en |
| Published: |
2016
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2016LYSEM009/document |