Amélioration des solutions de test fonctionnel et structurel des circuits intégrés
Compte tenu de la complexité des circuits intégrés de nos jours et des nœuds technologiques qui ne cessent pas de diminuer, être au rendez-vous avec les demandes de design, test et fabrication des dispositifs de haute qualité est devenu un des plus grands défis. Avoir des circuits intégrés de plus...
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| Language: | en |
| Published: |
2016
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2016MONTT308/document |