Probing the impact of structural defects on spin dependent tunneling using photons

L’étude de l’impact des défauts sur les propriétés électriques des semi-conducteurs a joué un rôle crucial dans la révolution des technologies de l’information dans le milieu du 20ème siècle. Jusqu’ici, la course à la miniaturisation a permis de répondre à la demande croissante en termes de puissanc...

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Bibliographic Details
Main Author: Halisdemir, Ufuk
Other Authors: Strasbourg
Language:en
Published: 2016
Subjects:
TMR
538
Online Access:http://www.theses.fr/2016STRAE018/document