Analyse de défaillance dans les transistors de puissance grand gap par électroluminescence spectrale
La microscopie à émission de photons spectrale (SPEM) est une technique non destructive utilisée comme outil de localisation des défauts et comme indicateur des mécanismes de défaillance. Cette thèse présente un nouveau système de SPEM développé pour étudier la fiabilité des dispositifs de puissance...
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Language: | fr |
Published: |
2017
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Online Access: | http://www.theses.fr/2017NORMR052/document |