Depletion of CMOS pixel sensors : studies, characterization, and applications

Depletion of CMOS pixel sensors : studies, characterization, and applications

Une architecture de capteurs à pixels CMOS permettant la désertion du volume sensible par polarisation via la face avant du circuit est étudiée à travers la caractérisation en laboratoire d’un capteur prototype. Les performances de collection de charge confirment la désertion d‘une grande partie de...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Heymes, Julian
Other Authors: Strasbourg
Language:en
fr
Published: 2018
Subjects:
Détecteurs semi-conducteur
Capteur à pixels CMOS
Désertion
Développement de capteur
Radiotolérance
Spectroscopie
Semiconductor Detectors
CMOS pixel sensors
Depletion
Sensor development
Radiation hardness
Spectroscopy
539.7
Online Access:http://www.theses.fr/2018STRAE010/document

Internet

http://www.theses.fr/2018STRAE010/document

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