É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe

É́tude sur la cinétique des défauts structuraux dans le silicium amorphe

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Bibliographic Details
Main Author: Joly, Jean-François
Other Authors: Mousseau, Normand
Published: 2013
Subjects:
silicium
amorphe
viscosité
relaxation structurelle
lacune
silicon
amorphous
viscosity
structural relaxation
vacancy
Physics - Condensed Matter / Physique - Matière condensée (UMI : 0611)
Online Access:http://hdl.handle.net/1866/9874

Internet

http://hdl.handle.net/1866/9874

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