Ingénierie de jonctions tunnel pour améliorer les performances du transistor mono-électronique métallique
Résumé: Aujourd’hui plusieurs obstacles technologiques et limitations physiques s’opposent à la poursuite de la miniaturisation de la technologie CMOS : courants de fuite, effet de canal court, effet de porteurs chauds et fiabilité des oxydes de grille. Le transistor à un électron (SET) fait partie...
Main Author: | El Hajjam, Khalil |
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Other Authors: | Drouin, Dominique |
Language: | French |
Published: |
Université de Sherbrooke
2016
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Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/11143/8508 |
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