Medida de topografia de superfície usando a técnica de deslocamento de fase
Neste trabalho, medimos o perfil 3D de superfícies (microtopografia) utilizando uma técnica de interferometria óptica: Phase-Shi,ftzng (Deslocamento de Fase). Utilizamos um interferômetro do tipo Twyman-Green para produzir fi.guras de interferência da superfície analisada. Essas imagens foram armaze...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | pt |
Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2000
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-153443/ |