Dosimetria de elétrons em processos de irradiação com diodos resistentes a danos de radiação

Este trabalho teve como objetivo o desenvolvimento de sistemas dosimétricos baseados em diodos especiais de Si, resistentes a danos de radiação, para monitoração online de processos de irradiação com elétrons de 1,5 MeV de energia e para dosimetria relativa e escaneamento de feixe de elétrons clínic...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Santos, Thais Cavalheri dos
Other Authors: Tobias, Carmen Cecília Bueno
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 2012
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-05112012-095317/