"Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): Determinação da espessura e composição química de filmes finos"
Neste trabalho é descrito um procedimento para a determinação quantitativa da espessura e composição química de filmes finos, por fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDXRFS), utilizando-se o método de Parâmetros Fundamentais (FP). Este método foi validado dentro dos padrõe...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | pt |
Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2004
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/ |