Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica

Medidas de expoentes críticos de filmes de diamante por meio de microscopia de força atômica

Neste trabalho investigamos a dinâmica de crescimento de filmes de diamante sintetizados por meio de deposição química a vapor ativada por plasma de microondas (CVD). A caracterização foi feita utilizando, fundamentalmente, microscopia de força atômica (AFM). Analisamos o comportamento da rugosidade...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Other Authors: Salvadori, Maria Cecilia Barbosa da Silveira
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 1999
Subjects:
Atomic force microscopy
Critical exponents
Diamond films
Expoentes críticos
Filmes de diamante
KPZ
Leis de escala
Microscopia de força atômica
Scale laws
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-19062015-165612/

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