\"Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos\"
A técnica de análises PIXE (Particle Induced X-ray Emission) de alvos finos é rotineiramente usado no Instituto de Física da Universidade de São Paulo (USP) pelo Lamfi (Laboratório de Materiais e Feixes Iônicos) em análises quantitativas elementares. A calibração do arranjo experimental do Lamfi é r...
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| Format: | Others |
| Language: | pt |
| Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2005
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-22032007-143019/ |