Análise estrutural de um compledo de níquel e de vários triterpenos por difração de raios-x
Este trabalho consiste em uma introdução teórica dos fundamentos básicos da difração de raios-X por cristais, de uma descrição sucinta do difratômetro automático CAD-4 da Enraf-Nonius, e do método de Patterson e dos métodos diretos usados na determinação de estruturas. Foram resolvidas as estruturas...
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| Format: | Others |
| Language: | pt |
| Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
1989
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-23042009-132312/ |