Pseudo jahn-teller versus reconstrucao quimica : oxigenio em silicio.

Pseudo jahn-teller versus reconstrucao quimica : oxigenio em silicio.

Estudamos neste trabalho o comportamento da impureza oxigênio em rede cristalina de silício, usando primeiramente o método INDO (lntermediate Neglect of Differential Overlap) com parametrização espectroscópica e incluímos os efeitos de muitos elétrons via Método CI-(Interacão de Configuração). Fazem...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Camargo, Francisco de Paula
Other Authors: Watari, Kazunori
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 1990
Subjects:
Correlação Eletrônica
Defects in semiconductors
Defeitos em semicondutores
Electronic Correlation
Impureza O (Oxigênio) em Si (Silício)
Impurity O (Oxygen) on Si (Silicon)
Method: INDO (Intermediate Neglect of Differential Overlap) - CI (Configuration Interaction)
Método: INDO (Intermediate Neglect of Differential Overlap) CI (Configuration Interaction)
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-28042014-160842/

Internet

http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-28042014-160842/

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