Efeito da radiação em transistores 3D em baixas temperaturas.

Nesse trabalho de mestrado estudou-se o comportamento elétrico de transistores verticais de múltiplas portas (3D) sobre isolante (SOI FinFET) sob o efeito da radiação de prótons em baixa temperatura, por meio de métodos experimentais e simulações numéricas. Inicialmente, foram comparados os comporta...

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Bibliographic Details
Main Author: Caparroz, Luís Felipe Vicentis
Other Authors: Agopian, Paula Ghedini Der
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 2017
Subjects:
SOI
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28062017-155642/