Estudo da cristalinidade de filmes finos de nitreto de índio e simulado pelo pacote de programas Wien2k
Neste trabalho, foi utilizado o método de deposição assistida por feixe de íons (IBAD na sigla em inglês) para produção de filmes finos de nitreto de índio em substratos de silício (111) e Safira-C. Variando as condições de deposição e utlilizando a técnica de difração de raios-X, investigou-se com...
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| Format: | Others |
| Language: | pt |
| Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-31052016-141339/ |