無線積體電路檢測系統之測試協定模型建立與評估
碩士 === 國立清華大學 === 資訊工程學系 === 97 === 隨著積體電路製桯的快速演進，晶片裡單位面積所能包含的電路數量愈來愈多，要達成SoC (System-on-Chip) 變得輕而易舉。雖然SoC能整合許多不同的core在一顆chip內，同時卻也帶來許多在測試上的問題。SoC的功能變得更複雜，傳統測試機台 (ATE) 很難跟上SoC發展的腳步，諸如pin腳的數量愈來愈多、timing準確性的要求愈來愈高、亦或是clock的工作時脈愈來愈快等，都會造成測試上的困難。於是，HOY這個概念被提出以克服上述的問題。HOY是個無線測試的系統，它拋棄了舊有接觸惑的探針卡 (probe c...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | en_US |
| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/74719572372025312675 |